SEM

Question 1

SEM = scanning electron microscope

Answer 1

מיקרוסקופ סורק. אלקטרונים משתי קרניים שונות פוגעים בדגימה, מתפזרים ונקלטים ע”י דיטקטורים, מה שמשמש ליצירת תמונה תלת-ממדית. משמש לחקר תאים שלמים ורקמות.

Question 2

SEM ל-TEM הבדלים בין

Answer 2

טם הוא חודר וסם סורק. סם יוצר תמונה תלת- ממדית של פני הדגימה. סם פשוט וזול יותר מטם. סם מאפשר לקחת חתיכה גדולה יחסית מאורגניזם ולצלם ללא הכנות רבות.

Question 3

מגבלות השיטה

Answer 3

1. ניתן לסרוק רק את פני השטח של הדגימה.

2. הרזולוציה המקסימלית היא 10 ננומטר.

Question 4

הכנת הדגימה

Answer 4

לאחר הפיקסציה והייבוש, מכסים את הדגימה במתכת כבדה או שמקפיאים אותה ומעבירים אותה ישירות לצילום.